[发明专利]一种洛伦兹力微颗粒探测法的校准方法

摘要

一种洛伦兹力微颗粒探测法的校准方法，属于检测领域，包括以下步骤：首先，在待测导体的外部设置三组传感器阵列，相邻传感器阵列在周向的夹角为120°，所述传感器阵列由环状Halbach磁系统和力传感器组成；然后，数值标定：以微颗粒的质心位于待测导体的轴线上时获得的测量值为基准值进行数值标定，对位置位于离轴心一定距离处的微颗粒的探测结果进行修正；最后通过对微颗粒经过每个传感器所获得的测量力进行数学分析，解决因微颗粒在待测导体截面上位置分布不同造成的检测信号存在差异的问题，即进行校准。本发明能有效校准因微颗粒位于导体截面不同位置对探测结果的影响，可用于原位、在线、实时地检测金属导体夹杂物中。