[发明专利]一种基于来袭光束的目标物方位测量方法和装置

摘要

本发明提供了一种基于来袭光束的目标物方位测量方法，该方法使用一种测量装置，测量的具体步骤包括：启动测量主体校准模式，使准直光束垂直入射测量主体，在投屏上形成标参光斑，标记标参光斑的位置作为初始坐标；启动测量主体工作模式，当发现投屏上有来袭光斑，使用视觉技术测量来袭光斑位置作为动态坐标；根据来袭光斑相对标参光斑的二维坐标偏移解算目标物的方位。本发明技术方案通过视觉技术测量光斑的二维坐标，能快速准确地获取发射光束的目标物的方位，应用在战场环境，有助于提升对敌方小型隐蔽武器的侦查力，提升抗打击力。