[发明专利]薄膜电阻层制备方法在审
申请号: | 202010533987.9 | 申请日: | 2020-06-12 |
公开(公告)号: | CN113445012A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 邱正中;卢契佑 | 申请(专利权)人: | 光颉科技股份有限公司 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08;C23C14/06;C23C14/58 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 姚亮;张德斌 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种薄膜电阻层制备方法。该方法利用磁控溅镀方法于基板表面形成氮化钽层,再形成五氧化二钽层于氮化钽层上,最后经退火处理以得到具低电阻值变化率的薄膜电阻层。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 电阻 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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