[发明专利]一种基于平面约束的多边法激光跟踪三维坐标测量方法有效
| 申请号： | 202010530001.2 | 申请日： | 2020-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN111811396B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 张福民;张画迪;曲兴华;周伦彬 | 申请（专利权）人： | 天津大学;苏州集成校准检测认证有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 王蒙蒙 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于平面约束的多边法激光跟踪三维坐标测量方法：(1)选定第一测站位置并布置光学面包板；(2)选定采样点，在第一测站位置对每一个采样点进行测量，获得每一个采样点在球坐标系下的三维坐标数据和每一个采样点与绝对测量式激光跟踪仪的测量中心之间的距离；(3)根据步骤(2)完成其他测站位置的数据测量；(4)根据步骤(2)得到的三维坐标数据，获得每块光学面包板的标准平面；(5)系统参数解算；(6)采用系统参数对待测物体的待测点坐标依照激光跟踪多边法进行解算。本发明通过在传统多边系统中引入平面约束，为系统提供优化方程，提高多边系统的系统参数解算精度，进而提高多边系统对空间点三维坐标测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 平面 约束 多边 激光 跟踪 三维 坐标 测量方法 | ||
【主权项】：
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