[发明专利]精确测量铝基复合材料中原位自生TiB2有效

专利信息
申请号: 202010529705.8 申请日: 2020-06-11
公开(公告)号: CN111579442B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 王浩伟;陈思议;汪明亮;陈东;夏存娟 申请(专利权)人: 上海交通大学;安徽相邦复合材料有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N1/32;G01N1/38;G01N1/42
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种精确测量铝基复合材料中原位自生TiB2颗粒尺寸分布的方法,包括以下步骤:(1)材料表面清洗后吹干;(2)将清洗后的铝基复合材料放入过量的盐酸溶液中进行反应,得到TiB2颗粒悬浊液A;(3)将TiB2颗粒悬浊液A用微孔滤膜进行真空抽滤操作重复多次,直至TiB2颗粒悬浊液B呈中性;(4)将真空抽滤清洗得到的TiB2颗粒悬浊液B冻干,得到干燥的TiB2颗粒粉末;(5)取冻干得到的TiB2颗粒粉末,分散于去离子水当中,进行化学分散和/或物理分散;(6)利用纳米粒度分析仪对分散后的TiB2颗粒悬浊液进行粒度测试,得到TiB2颗粒尺寸分布数据。本发明提供的原位自生TiB2颗粒尺寸分布的测量方法,可操作性强,测量结果准确性高,数据重复性高。
搜索关键词: 精确 测量 复合材料 原位 自生 tib base sub
【主权项】:
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