[发明专利]光学相干层析设备的诊断检测方法、装置、系统有效
| 申请号： | 202010529679.9 | 申请日： | 2020-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN111568385B | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 安其昌;刘欣悦;张景旭;李洪文;唐境 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛娇 |
| 地址： | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光学相干层析设备的诊断检测方法，包括连续采集光学相干层析设备输出的多个干涉条纹数据；各个干涉条纹数据是光学相干层析设备的测量臂的光路上设置分别不同掩膜板时，光学相干层析设备对应生成的条纹数据；根据各个干涉条纹数据，获得待测人体组织的切片图像。本申请中将分别采用不同透光面积的掩模板设置在测量臂和待测人体组织之间的位置，以抑制外界环境对干涉条纹产生的不同强度扰动，光学系统获取信息的能力、提高所获得的人体组织切片检测图像的信噪比。本申请还提供了一种光学相干层析设备的诊断检测装置及系统，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 相干 层析 设备 诊断 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010529679.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
