[发明专利]一种集成电路老化失效预警方法及电路在审

专利信息
申请号: 202010524800.9 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN111812485A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 史江义;韩玉秀;张华春;马佩军;张馨元;李林涛;苏昭伟;周艳 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/30
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 李园园
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种集成电路老化失效预警方法及电路,该方法包括:对载体电路和预警电路进行老化仿真,获取载体电路失效时预警电路的检测结果,取小于检测结果的值作为失效阈值;将载体电路和预警电路置于同一老化环境中,按照预设的检测频率定期检测,获取预警电路的检测结果;将检测结果与失效阈值进行比较,若检测结果大于或等于失效阈值,则判定载体电路即将老化失效,并产生预警信号;其中,检测结果为预警电路中第一环形振荡器与第二环形振荡器的频率差值,第一环形振荡器与载体电路保持同步老化,第二环形振荡器保持不被老化。本发明的方法,可以实现对载体电路老化失效情况进行有效预警。
搜索关键词: 一种 集成电路 老化 失效 预警 方法 电路
【主权项】:
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