[发明专利]一种质子绝对能谱测量装置及其瞄准方法在审
| 申请号： | 202010522388.7 | 申请日： | 2020-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN111522056A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 滕建;邓志刚;周维民;单连强;贺书凯;朱斌;王为武;田超;张天奎;张锋;袁宗强 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 杜阳阳 |
| 地址： | 621000 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种质子绝对能谱测量装置及其瞄准方法。所述质子绝对能谱测量装置包括：从瞄准激光发出端到实验置靶端依次设置的汤姆逊离子谱仪和辐射变色膜片堆栈；辐射变色膜片堆栈的中心开设有中心通孔；中心通孔的轴线与汤姆逊离子谱仪的进出孔的轴线重合；汤姆逊离子谱仪用于接收瞄准激光并使激光穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔到达实验靶点；实验靶点用于接收实验打靶激光，并使实验打靶激光加速产生质子，激光加速产生的质子会辐照在辐射变色膜片堆栈上实现离散能量角分布测量，小部分质子将穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔进入汤姆逊离子谱仪实现能谱测量。本发明综合这两套设备的诊断结果，能够实现宽范围下的高精度能谱测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 质子 绝对 测量 装置 及其 瞄准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心，未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010522388.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
