[发明专利]获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置有效
| 申请号： | 202010495575.0 | 申请日： | 2020-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN113759412B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 杨宏成;廖璨;吴玄 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/161 | 分类号： | G01T1/161;G01T1/29;G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 乔改利 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种获取束流形状和能量探测单元响应特征的方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取能量探测单元中预设的参考点的束流强度值和能量探测单元中每个像素点的信号强度值，然后根据参考点的束流强度值、每个像素点的信号强度值，以及根据能量探测单元与光束中心处于不同的相对位置处的亮场图像确定的且表示能量探测单元中不同像素点的束流强度之间关系的束流强度关系，确定每个像素点的束流强度值，进一步根据能量探测单元中每个像素点的束流强度值，计算得到能量探测单元中的束流形状，并基于束流形状确定能量探测单元响应特征，该方法能够更加准确地描绘束流形状及能量探测单元响应的特征。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 流形 能量 探测 单元 响应 特征 方法 装置 | ||
【主权项】：
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