[发明专利]缺陷映射方法有效
| 申请号： | 202010437360.3 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN111339220B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 彭其栋;张孟;王四平;周凯;庞凤江;王双桥 | 申请（专利权）人： | 深圳新视智科技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/28 | 分类号： | G06F16/28 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 宋鹏跃 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市罗湖区莲*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及缺陷映射技术领域，尤其涉及一种缺陷映射方法，包括如下步骤：步骤S1：对mysql数据库的版本进行检测；步骤S2：利用版本符合的mysql数据库创建用于存储缺陷数据的内存表，所述内存表包含缺陷数据对应位置的坐标信息；步骤S3：对与缺陷数据对应的字段创建索引；步骤S4：将包含明场缺陷及暗场缺陷的缺陷数据存入内存表中；步骤S5：确定明场缺陷与暗场缺陷中缺陷之间距离；步骤S6：根据距离判断缺陷是否处于同一位置；步骤S7：对处于同一位置的两个缺陷做缺陷映射。通过运用mysql数据库实现映射，在缺陷映射中相比于遍历对比的方式具有更快的映射速度，提升了缺陷检测的效率，有利于增大产品质量检测的速度。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 映射 方法 | ||
【主权项】：
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