[发明专利]一种应用于先进控制系统的线宽控制方法在审

专利信息
申请号: 202010425461.9 申请日: 2020-05-19
公开(公告)号: CN111427242A 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 许博闻;李琛;时雪龙;燕燕;李立人 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;H01L21/027
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;马盼
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种应用于先进控制系统的线宽控制方法,包括如下步骤:设置第1次曝光的原始曝光能量Eexp(1),并进行曝光;第1次曝光完成之后,计算第1次曝光的实际曝光能量El(1)以及预测曝光能量Ep(1),且Ep(1)=E(1)/f(1);重复步骤S01‑S02,设置第x次曝光的原始曝光能量Eexp(x)等于第x‑1次曝光的预测曝光能量Ep(x‑1),并进行曝光,再计算第x次曝光的实际曝光能量El(x)以及预测曝光能量Ep(x);直至完成整个曝光过程;其中,E(x)表示采用平均方法计算出的初始预测曝光能量,f(x)为单调递增的调整公式,f(x)∈(0,1),且随着x的增大,f(x)趋近于1。本发明通过对平均方法的修正,减少线宽控制过程中初始时期的偏差,在早期获得更好的曝光能量预测,使曝光后的晶圆更快的达到线宽标准。
搜索关键词: 一种 应用于 先进 控制系统 控制 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司,未经上海集成电路研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010425461.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top