[发明专利]含局部减薄缺陷的选频带涡流无损检测解析计算方法有效
| 申请号： | 202010422784.2 | 申请日： | 2020-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN111597717B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 于亚婷;刘博文;袁飞;李林峰;王伟 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01N27/90;G06F111/10 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种含局部减薄缺陷的选频带涡流无损检测解析计算方法，包括以下步骤：S1、将缺陷检测模型划分为6个求解区域；S2、对1‑5区五个水平方向区域进行求解，然后通过叠加原理得到1‑2区的磁矢量势和磁感应强度；S3、对选频带涡流无损检测激励信号进行傅里叶分析，得到频域激励信号的频率成分，计算不同频率成分下的圆柱形线圈所在区域1‑2的磁矢量势级数形式的解析解，通过线性叠加获取选频带涡流无损检测激励信号的磁矢量势级数形式的解析解。本发明可以获得含局部减薄缺陷的选频带涡流无损检测系统在区域1‑2的磁矢量势的级数形式解析解，可以大幅提高含局部减薄缺陷的选频带涡流无损检测系统的电磁场计算的求解效率。 | ||
| 搜索关键词： | 局部 缺陷 频带 涡流 无损 检测 解析 计算方法 | ||
【主权项】：
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