[发明专利]一种可用于定量测量的AFM探针、修饰方法及其应用在审
| 申请号： | 202010411793.1 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN111505346A | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 马建立;于洁;孙伟皓;李姮;吴成伟;张伟;韩啸;马国军;吕永涛 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01Q60/38 | 分类号： | G01Q60/38;B82Y40/00;A61N2/08 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 李晓亮;潘迅 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供一种可用于定量测量的AFM探针、修饰方法及其应用，属于纳米力学和实验力学技术领域。本发明利用表面经过特殊处理而带有缺陷的微米级小球均匀吸附一层纳米颗粒，再将微米级小球附着在AFM探针针尖处以完成探针修饰，具体包括以下步骤：微米级小球预处理；制备纳米颗粒分散液；微米级小球吸附纳米颗粒；选择磁性纳米颗粒修饰的微米级小球；进行AFM探针修饰。本发明操作简便，应用范围广，避免了常规修饰中AFM探针针尖处纳米颗粒团聚形状不可控的问题；且通过扫描电镜观测、计算得到单位纳米颗粒与被测物体表面间的相互作用力，实现了定量纳米力学测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 定量 测量 afm 探针 修饰 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
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