[发明专利]一种测试座及其控制方法、测试装置及存储介质在审
| 申请号： | 202010409440.8 | 申请日： | 2020-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN113740699A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 任楚建;钟衍徽;程振 | 申请（专利权）人： | 中山市江波龙电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01K13/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何倚雯 |
| 地址： | 528400 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试座及其控制方法、测试装置及存储介质，该测试座包括底座、盖体和温控组件，其中，底座上设置有测试组件和弹针，盖体连接所述底座，且可相对于所述底座转动形成盖合状态或分离状态，所述盖体朝向所述底座的一侧设置有压块，用于在所述底座和所述盖体呈盖合状态时，对所述底座上放置的待测件进行按压，以使所述待测件与所述测试组件接触，温控组件设置于所述盖体和所述压块之间，用于通过所述压块进行热传导，对所述待测件进行温度检测和温度控制，并在所述底座和所述盖体呈盖合状态时，接触所述弹针以通过所述弹针连接外部电路板。通过上述方式，本申请能够在测试芯片时调节并采集芯片的温度，以准确管控芯片测试的温度条件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 及其 控制 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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