[发明专利]一种用于片上检测的控制系统及控制方法在审
| 申请号： | 202010371527.0 | 申请日： | 2020-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN113625541A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 陈济 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B11/42 | 分类号： | G05B11/42;G05D23/19 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 杨思雨 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种用于片上检测的控制系统及控制方法，通过与待测芯片电连接的上位机设置待测芯片的目标温度；响应于上位机的控制指令，配置控制参数生成第一检测电压；根据所述第一检测电压生成检测信号；根据所述检测信号调整所述控制参数，控制所述第一检测电压的大小，使所述检测信号达到所述目标温度对应的电压设定值，其中，所述检测信号用以表征待测芯片的温度，所述控制指令包括检测所述待测芯片的温度，所述控制参数包括电源参数和/或负载参数。由此可解决传统测量方法以芯片周围温度代替芯片节温的问题，在保证温度控制动态响应的同时，增强系统减小稳态误差的能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 控制系统 控制 方法 | ||
【主权项】：
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