[发明专利]SDK测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202010360273.2 | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN111563038A | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 刘丽珍;吕小立 | 申请（专利权）人： | 深圳壹账通智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 程超 |
| 地址： | 518052 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SDK测试方法，能够提高测试准确性，节约测试资源，该SDK测试方法包括：对SDK进行测试，得到第一测试结果；在所述第一测试结果表征所述SDK功能正常的情况下，将所述SDK集成至客户端，得到集成SDK；对所述集成SDK进行测试，得到第二测试结果；根据所述第二测试结果确定所述集成SDK的功能是否正常。本发明还提供了一种SDK测试装置、一种计算机设备及一种计算机可读存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | sdk 测试 方法 装置 计算机 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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