[发明专利]SDK测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202010360273.2 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111563038A 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 刘丽珍;吕小立 申请(专利权)人: 深圳壹账通智能科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 程超
地址: 518052 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: sdk 测试 方法 装置 计算机 设备 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种SDK测试方法,其特征在于,包括:

对SDK进行测试,得到第一测试结果;

在所述第一测试结果表征所述SDK功能正常的情况下,将所述SDK集成至客户端,得到集成SDK;

对所述集成SDK进行测试,得到第二测试结果;

根据所述第二测试结果确定所述集成SDK的功能是否正常。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对SDK进行测试,得到第一测试结果的步骤包括:

获取第一测试用例,其中,所述第一测试用例包括输入参数和与所述输入参数对应的第一预期结果;

将所述输入参数输入所述SDK,并获取所述SDK输出的输出结果;

将所述输出结果与所述第一预期结果进行比较,得到所述第一测试结果;

其中,在所述第一测试结果为所述输出结果与所述第一预期结果一致时,表征所述SDK的功能正常;在所述第一测试结果为所述输出结果与所述第一预期结果不一致时,表征所述SDK的功能不正常。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述输入参数包括正向输入参数、反向输入参数和缺失输入参数中的至少一种。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述集成SDK进行测试,得到第二测试结果的步骤包括:

获取第二测试用例,其中,所述第二测试用例包括测试规则和与所述测试规则对应的第二预期结果;

对所述客户端执行所述测试规则中规定的操作;

获取所述集成SDK响应所述操作后通过所述客户端输出的响应结果;

将所述响应结果与所述第二预期结果进行比较,得到所述第二测试结果;

其中,在所述第二测试结果为所述响应结果与所述第二预期结果一致时,表征所述集成SDK的功能正常;在所述第二测试结果为所述响应结果与所述第二预期结果不一致时,表征所述集成SDK的功能不正常。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

将所述SDK集成至所述客户端,得到集成SDK的步骤包括:将所述SDK分别集成至多个所述客户端中的每个所述客户端上,得到多个所述集成SDK;

相应地,对所述集成SDK进行测试,得到第二测试结果的步骤包括:获取每个所述客户端对应的标识信息;确定与每个所述标识信息对应的第二测试用例;根据确定出的与每个所述标识信息对应的第二测试用例对每个所述集成SDK进行测试,得到每个所述集成SDK的第二测试结果。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述标识信息包括安装所述客户端的终端设备的设备标识。

7.一种SDK测试装置,其特征在于,包括:

第一测试模块,用于对SDK进行测试,得到第一测试结果;

集成模块,用于在所述第一测试结果表征所述SDK功能正常的情况下,将所述SDK集成至客户端,得到集成SDK;

第二测试模块,用于对所述集成SDK进行测试,得到第二测试结果;

确定模块,用于根据所述第二测试结果确定所述集成SDK的功能是否正常。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第一测试模块还用于:

获取第一测试用例,其中,所述第一测试用例包括输入参数和与所述输入参数对应的第一预期结果;

将所述输入参数输入所述SDK,并获取所述SDK输出的输出结果;

将所述输出结果与所述第一预期结果进行比较,得到所述第一测试结果;

其中,在所述第一测试结果为所述输出结果与所述第一预期结果一致时,表征所述SDK的功能正常;在所述第一测试结果为所述输出结果与所述第一预期结果不一致时,表征所述SDK的功能不正常。

9.一种计算机设备,所述计算机设备包括:存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述方法的步骤。

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