[发明专利]高度差检测方法、装置、存储介质以及电子设备在审
| 申请号： | 202010348044.9 | 申请日： | 2020-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN111637838A | 公开（公告）日： | 2020-09-08 |
| 发明（设计）人： | 邱伟 | 申请（专利权）人： | OPPO（重庆）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京恒博知识产权代理有限公司 11528 | 代理人： | 范胜祥 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种高度差检测方法、装置、存储介质以及电子设备，涉及量具技术领域。一种高度差检测方法包括：控制测距装置测量前置支架中多个第一检测点与测距装置之间的第一相对距离；控制测距装置测量中框中多个第二检测点与测距装置之间的第二相对距离，其中多个第二检测点与多个第一检测点一一对应；若各第一相对距离与其对应的各第二相对距离之间的差值大于第一预设高度差，则确定前置支架与中框之间高度差不合格。由于可以通过测距装置测量前置支架与中框中各检测点与测距装置的相对距离，根据各相对距离之间的差值，可以确定前置支架与中框之间高度差是否合格，大大提高了检测精度以及检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 高度 检测 方法 装置 存储 介质 以及 电子设备 | ||
【主权项】：
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