[发明专利]一种并行彩色共聚焦三维形貌光学测量系统有效

专利信息
申请号: 202010327432.9 申请日: 2020-04-23
公开(公告)号: CN111412863B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 余卿;张雅丽;程方;王寅;张一;尚文键;邹景武;周东方;张昆 申请(专利权)人: 华侨大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/04
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 刘凤玲
地址: 362000 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种并行彩色共聚焦三维形貌光学测量系统,其特征在于,包括:从上至下依次排列的复色光源、分光模块、色散模块、载物模块以及位于分光模块一侧的成像模块,被测物位于色散模块和载物模块之间,复色光源发出的复色光经分光模块分光后传播至色散模块进行并行色散,使得不同波长的光线按照波长规律聚焦在各自轴向的不同高度位置处,光线到达被测物表面并由被测物表面反射至分光模块中,再由分光模块对光线进行再次反射,聚焦在被测物表面的波长的光线经反射后到达成像模块成像。本发明的并行彩色共聚焦三维形貌光学测量系统,使用方便,测量效率和测量精度高。
搜索关键词: 一种 并行 彩色 聚焦 三维 形貌 光学 测量 系统
【主权项】:
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