[发明专利]用于熔接和剥离的低密度硅氧化物的方法和结构有效

专利信息
申请号: 202010326105.1 申请日: 2020-04-23
公开(公告)号: CN111863704B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 今井清隆;相泽宽和;前田宽;前川薰;三村裕司;末永治信 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/762 分类号: H01L21/762
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 蔡胜有;苏虹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本文中描述的是一种接合以及/或者剥离基底的方法。在一个实施方案中,要被接合的基底的表面中的至少一个包括氧化物。在一个实施方案中,两个基底的表面均包括氧化物。然后,可以利用湿蚀刻通过蚀刻掉已经接合的层来剥离基底。在一个实施方案中,利用熔接工艺来接合两个基底,至少一个基底具有硅氧化物表面。在一种示例性蚀刻中,利用稀氢氟酸(DHF)蚀刻来蚀刻接合的硅氧化物表面,从而允许剥离两个接合的基底。在另一个实施方案中,硅氧化物可以是低密度硅氧化物。在一个实施方案中,两个基底都可以具有可以被熔接在一起的低密度硅氧化物的表面层。
搜索关键词: 用于 熔接 剥离 密度 氧化物 方法 结构
【主权项】:
暂无信息
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