[发明专利]用于熔接和剥离的低密度硅氧化物的方法和结构有效
申请号: | 202010326105.1 | 申请日: | 2020-04-23 |
公开(公告)号: | CN111863704B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
发明(设计)人: | 今井清隆;相泽宽和;前田宽;前川薰;三村裕司;末永治信 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 蔡胜有;苏虹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本文中描述的是一种接合以及/或者剥离基底的方法。在一个实施方案中,要被接合的基底的表面中的至少一个包括氧化物。在一个实施方案中,两个基底的表面均包括氧化物。然后,可以利用湿蚀刻通过蚀刻掉已经接合的层来剥离基底。在一个实施方案中,利用熔接工艺来接合两个基底,至少一个基底具有硅氧化物表面。在一种示例性蚀刻中,利用稀氢氟酸(DHF)蚀刻来蚀刻接合的硅氧化物表面,从而允许剥离两个接合的基底。在另一个实施方案中,硅氧化物可以是低密度硅氧化物。在一个实施方案中,两个基底都可以具有可以被熔接在一起的低密度硅氧化物的表面层。 | ||
搜索关键词: | 用于 熔接 剥离 密度 氧化物 方法 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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