[发明专利]一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统在审
| 申请号： | 202010245887.6 | 申请日： | 2020-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN111474181A | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都数之联科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06T7/00 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 李朝虎 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种成盒制程阶段的面板缺陷检测及分类系统，包括前端服务单元、处理单元、判断单元和输出单元；处理单元统计单一光源图片中的发光单元像素数目并将单一光源图片输入预先构建好的面板基础缺陷检测模型得到单一光源图片的缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积和置信度；基于单一光源图片的缺陷类别、缺陷位置坐标、缺陷面积和置信度和统计的发光单元像素数目，按照面板缺陷判断规则确定对应的面板缺陷种类；再基于面板缺陷种类依据面板等级判断规则确定面板等级，实现了对面板缺陷的高效分类识别。将多光源细节图拆分为多个单一光源图片，将所有单一光源图片输入检测模型进行检测，有效解决了细节图的图片小且缺陷细微的问题；提升了工厂缺陷检测效率及准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 成盒制程 阶段 面板 缺陷 检测 分类 系统 | ||
【主权项】：
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