[发明专利]用于闪烁体余辉的检测装置和方法在审
| 申请号： | 202010243019.4 | 申请日： | 2020-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN113466186A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 王燕春;何会绍;邹湘;朱维彬;张清军;李元景 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/27;G01T1/20;G01T1/202 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 李浩;王莉莉 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种用于闪烁体余辉的检测装置和方法。该检测装置包括：LED芯片光源，用于在被开启后发出紫外光，以及在被关断后不发出紫外光，其中，该紫外光照射在闪烁体上以使得该闪烁体发出光信号；光电探测器，用于接收闪烁体发出的光信号，并将该光信号转换为电信号；信号处理器，用于对电信号进行信号处理，以得到闪烁体的闪烁光强度；以及信息处理设备，用于从信号处理器接收闪烁光强度，并拟合得到该闪烁光强度随时间变化的曲线，并根据该曲线获得闪烁体的余辉特性参数。本公开实现了闪烁体余辉的便捷检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 闪烁 余辉 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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