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[发明专利]闪烁体反射层制备方法-CN201811551446.8有效
发明人：王燕春;何会绍;张清军;李元景;王永强;孙玉峰 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2022-01-21 - 主分类号： G01T1/20 文献下载
摘要：本公开涉及一种闪烁体反射层制备方法，包括：将闪烁体裸条(10)设置在模具的凹槽(32)内，并在所述凹槽(32)的侧壁与所述闪烁体裸条(10)的至少部分侧面外轮廓之间预留间隙；将用于形成反射层(13)的胶浆灌注到所述间隙内；使所述间隙内的胶浆固化，以形成反射层(13)。本公开实施例能够提高闪烁体反射层的制备效率。
闪烁反射层制备方法

[发明专利]用于闪烁体余辉的检测装置和方法-CN202010243019.4在审
发明人：王燕春;何会绍;邹湘;朱维彬;张清军;李元景 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本公开提供了一种用于闪烁体余辉的检测装置和方法。该检测装置包括：LED芯片光源，用于在被开启后发出紫外光，以及在被关断后不发出紫外光，其中，该紫外光照射在闪烁体上以使得该闪烁体发出光信号；光电探测器，用于接收闪烁体发出的光信号，并将该光信号转换为电信号；信号处理器，用于对电信号进行信号处理，以得到闪烁体的闪烁光强度；以及信息处理设备，用于从信号处理器接收闪烁光强度，并拟合得到该闪烁光强度随时间变化的曲线，并根据该曲线获得闪烁体的余辉特性参数。本公开实现了闪烁体余辉的便捷检测。
用于闪烁余辉检测装置方法

[发明专利]一种闪烁体产品的制备方法-CN202010186767.3在审
发明人：王燕春;张清军;李元景;邹湘;何会绍;孙玉峰;王晓青;马冲 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2020-03-17 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G01T1/202 文献下载
摘要：本发明涉及一种闪烁体产品的制备方法，包括：(1)切割闪烁体母材；(2)热处理上一步产物，热处理在含氧气氛中进行，热处理的温度为1000～1500℃，热处理的保温时间为1～10小时。
一种闪烁产品制备方法

[实用新型]光电器件-CN201721892050.0有效
发明人：张文剑;张清军;邹湘;何会绍 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： H01L31/028 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电器件衬底和光电器件。光电器件衬底包括衬底基部和通过外延形成在衬底基部上的硅单晶层。使用外延的光单晶层作为光电器件的衬底可以显著降低成本和工艺难度，并且可以实现大尺寸衬底，降低批量生产的成本。
光电器件

[发明专利]检测设备和检测方法-CN201710252395.8有效
发明人：张清军;李元景;陈志强;赵自然;刘以农;刘耀红;何会绍;马秋峰;朱伟平;邹湘;常建平;梁松 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2014-12-31 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G01N30/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测设备和检测方法。检测设备包括：采样装置，用于采集将要被检测的样品；预处理进样装置，用于对来自采样装置的样品预处理；样品分析装置，用于分离来自预处理进样装置的被预处理的样品和分析分离后的样品。本发明的检测设备实现小型化，并且能够在不开包的情况下快速准确地检测气相物质或颗粒物质，精确度高，适于机场、口岸、地铁站等安检。
检测设备方法

[发明专利]离子迁移管和操作离子迁移管的方法-CN201611270479.6有效
发明人：张清军;李元景;赵自然;朱伟平;何会绍;李祥华;马秋峰 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2016-12-29 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种离子迁移管及其操作方法。离子迁移管包括内部空间以及位于内部空间的离子门；内部空间包括具有电位绝对值V1的电离区和迁移区。电离区和迁移区之间设置的离子门包括具有电位绝对值V2的第一离子门栅和具有电位绝对值V3的第二离子门栅。迁移区至少包括具有电位绝对值V4的第一迁移区电极和具有电位绝对值V5的第二迁移区电极。在所述离子门被打开时，在第二离子门栅和第一迁移区电极之间形成离子的势阱以便对进入迁移区的离子群压缩。
离子迁移操作方法

[实用新型]闪烁体反射层制备模具-CN201822134817.4有效
发明人：王燕春;何会绍;孙玉峰;张清军;李荐民;李元景 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： B29D11/00 文献下载
摘要：本公开涉及一种闪烁体反射层制备模具，包括：模具本体，包括可组合和拆卸的多个模具组件；其中，所述多个模具组件能够通过相互组合，形成容置闪烁体裸条(10)的凹槽(32)。本公开实施例能够提高闪烁体反射层的制备效率。
闪烁体反射层模具组件制备模具模具本体可组合拆卸裸条容置制备

[发明专利]安检设备和方法-CN201511005824.9有效
发明人：张清军;朱伟平;马秋峰;何会绍;李鸽 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2015-12-29 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供一种安检设备和利用该设备进行检查的方法。安检设备包括壳体和置于壳体内部的部件，壳体内部的部件包括：采样系统，采样系统包括用于采集样品的样品采集装置和传送装置；样品处理系统；和检测系统。样品采集装置包括采样模块和伸缩结构。采样模块包括多个吸气采样口和多个热气流吹扫口；并且，伸缩结构配置为承载采样模块并且根据待检物品的形状作出相应的伸缩动作将多个吸气采样口和多个热气流吹扫口靠近待检物品的表面。
安检设备方法

[发明专利]闪烁体反射层制备模具-CN201811551424.1在审
发明人：王燕春;何会绍;孙玉峰;张清军;李荐民;李元景 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2019-03-22 - 主分类号： B29D11/00 文献下载
摘要：本公开涉及一种闪烁体反射层制备模具，包括：模具本体，包括可组合和拆卸的多个模具组件；其中，所述多个模具组件能够通过相互组合，形成容置闪烁体裸条(10)的凹槽(32)。本公开实施例能够提高闪烁体反射层的制备效率。
闪烁体反射层模具组件制备模具模具本体可组合拆卸裸条容置制备

[发明专利]安检设备、安检设备的采样装置、安检方法和采样方法-CN201510673716.2有效
发明人：张清军;李元景;陈志强;朱伟平;赵自然;刘耀红;刘以农;马秋峰;何会绍;邹湘 -专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日： 2015-10-16 - 公布日： 2019-03-19 - 主分类号： G01N30/88 文献下载
摘要：本发明提供一种安检设备、采样装置、安检方法和采样方法。安检设备包括：采样装置，所述采样装置具有采样面，在采样面内设置用于吸入被检目标的样品颗粒的多个吸入口和用于吹出气流的多个吹扫口；预处理装置以及，检测装置。采样装置将样品输送至预处理装置，预处理装置将预处理后的样品输送至检测装置。本发明的设备可以方便地靠近被检目标实施检测，并且不会对被检目标带来损坏或不适，并且在一个被检目标采样的同时，对从前一被检目标采集的样品进行分析，效率高。
安检设备采样装置方法

[发明专利]检测设备和检测方法-CN201710252488.0有效
发明人：张清军;李元景;陈志强;赵自然;刘以农;刘耀红;何会绍;马秋峰;朱伟平;邹湘;常建平;梁松 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2014-12-31 - 公布日： 2019-03-19 - 主分类号： H01J49/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测设备和检测方法。检测设备包括：采样装置，用于采集将要被检测的样品；预处理进样装置，用于对来自采样装置的样品预处理；样品分析装置，用于分离来自预处理进样装置的被预处理的样品和分析分离后的样品。本发明的检测设备实现小型化，并且能够在不开包的情况下快速准确地检测气相物质或颗粒物质，精确度高，适于机场、口岸、地铁站等安检。
检测设备方法

[发明专利]暗室式安检设备以及方法-CN201510796142.8有效
发明人：张清军;李元景;陈志强;朱伟平;赵自然;马秋峰;何会绍;常建平;邹湘;谈林霞 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2015-11-18 - 公布日： 2019-02-19 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供一种暗室式安检设备和方法。设备包括构成密闭的暗室的壳体和壳体内部的部件。壳体内部的部件通过连接管道或接头连通，包括：采样系统，采样系统包括样品采集装置和用以将被检物体传送至样品采集装置以便检查的传送装置；样品处理系统，用于浓缩样品和解析样品；和检测系统，通过气相色谱‑离子迁移谱仪(GC‑IMS)或单独的离子迁移谱(IMS)检测样品成分。本发明的安检设备能够方便、快速、有效地取样并且准确快速地检测，并且不拆包，不破坏待检物品，适合于机场、海关等对违禁物品的快速筛查检测。
暗室安检设备以及方法

[发明专利]暗室式安检设备以及方法-CN201510796132.4有效
发明人：张清军;李元景;陈志强;赵自然;朱伟平;刘耀红;马秋峰;邹湘;何会绍;常建平;梁松 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2015-11-18 - 公布日： 2019-02-19 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供一种暗室式安检设备和使用该安检设备进行检查的方法。暗室式安检设备包括构成密闭的暗室的壳体和壳体内部的部件，壳体内部的部件包括：采样系统，采样系统包括传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置，其中X射线检测装置用于确定被检物体在到达采样系统内的相应位置，以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置；样品处理系统；其中，采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通。本发明的安检设备能够方便、快速、有效地取样和检测，不拆包，不破坏待检物品，适合于机场、海关等对违禁物品的快速筛查检测。
安检设备采样系统暗室样品处理系统传送装置壳体内部检测违禁物品样品采集装置样品检测系统快速筛查物体传送连接件有效地密闭拆包壳体取样连通采集期望海关机场检查

[发明专利]基于金属键合的光电器件封装结构及其制造方法-CN201611120663.2有效
发明人：张文剑;张清军;李元景;陈志强;赵自然;刘以农;刘耀红;邹湘;何会绍;李树伟;白楠 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2016-12-07 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： H01L31/02 文献下载
摘要：公开了一种基于金属键合的光电器件封装结构及其制造方法。根据实施例，一种光电器件封装结构可以包括光电芯片和封装基底。光电芯片包括：衬底，具有彼此相对的第一表面和第二表面；在衬底上形成的光电器件；以及在第一表面上形成的用于光电器件的电极。封装基底具有彼此相对的第一表面和第二表面，并包括从第一表面延伸到第二表面的导电通道。光电芯片以其第一表面面向封装基底的方式与封装基底叠置在一起，且光电芯片的第一表面上形成的电极与封装基底中的相应导电通道键合在一起。
基于金属键光电器件封装结构及其制造方法

[实用新型]余辉检测装置-CN201820684880.2有效
发明人：李树伟;张文剑;邹湘;赵博震;张清军;何会绍;王永强;王燕春 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2018-05-09 - 公布日： 2018-12-25 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种余辉检测装置。余辉检测装置包括：X射线管；第一读出电路，用于与被检测探测器连接，检测时被检测探测器接受X射线束辐射，并向第一读出电路输出第一探测信号，第一读出电路根据第一探测信号形成并输出第一测量信号；残余射线探测器；第二读出电路，与残余射线探测器连接，残余射线探测器接受X射线束辐射并向第二读出电路输出第二探测信号，第二读出电路根据第二探测信号形成并输出第二测量信号；计算装置，与第一读出电路和第二读出电路分别信号连接并根据关断X射线管的电源后的第一测量信号和第二测量信号计算并输出余辉检测信号。本实用新型具有简便、可靠的优点。
读出电路探测信号余辉检测射线探测器输出本实用新型第二测量第一测量检测探测器连接计算装置信号计算信号连接辐射探测器关断电源

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