[发明专利]区域电离层STEC改正数的完好性监测方法、系统有效

专利信息
申请号: 202010220296.3 申请日: 2020-03-25
公开(公告)号: CN113447958B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 郭海林 申请(专利权)人: 千寻位置网络有限公司
主分类号: G01S19/20 分类号: G01S19/20
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人: 吴珊;须一平
地址: 200438 上海市杨浦区国权北*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了区域电离层STEC改正数的完好性监测方法、系统。该方法包括:获取区域电离层改正数;采用非差非组合精密单点定位算法解算出包含接收机端和卫星端伪距硬件延迟的STEC;减去卫星端伪距硬件延迟,得到仅包括接受机端伪距硬件延迟的STEC;利用电离层薄层模型和多项式模型分离接收机端伪距硬件延迟,得到区域电离层的STEC实际估计值;根据所述区域电离层的STEC实际估计值计算区域电离层的STEC改正数的完好性保护级;将所述完好性保护级与告警门限值进行比较,输出完好性标识。
搜索关键词: 区域 电离层 stec 正数 完好 监测 方法 系统
【主权项】:
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