[发明专利]一种在太赫兹波段测量材料折射率的系统及方法有效
| 申请号： | 202010199607.2 | 申请日： | 2020-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN111272704B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 涂学凑;吴雅倩;陈健;邵智豪;贾小氢;赵清源;张蜡宝;康琳;吴培亨 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 封睿 |
| 地址： | 210093*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在太赫兹波段测量材料折射率的系统及方法，该系统包括太赫兹源、探测器和电子光学系统，其中太赫兹源产生连续的太赫兹辐射波；探测器接收太赫兹信号；电子光学系统中电动位移控制模块控制探测器保持准直并向远离太赫兹源的方向移动；信号读出模块将接收到的太赫兹信号转化为电信号；信号处理模块对电信号进行数字化处理和滤波，得到周期性变化的太赫兹信号分析确定折射率。该方法先对插入材料前后探测器扫描到的两段信号进行分段滤波，滤除其中的直流分量，然后通过希尔伯特等数学变换进行信号分析处理，得到信号的瞬时相位，再根据插入材料前后的相位跳变值计算出折射率。本发明实现了基于太赫兹连续波的高精度材料折射率测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 赫兹 波段 测量 材料 折射率 系统 方法 | ||
【主权项】：
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