[发明专利]一种真空系统漏点快速非接触检测方法有效
| 申请号： | 202010195517.6 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111272351B | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 胡东霞;张鑫;连克难;周维;邓明萌;邓学伟;杨英;王德恩;袁强 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01M3/20 | 分类号： | G01M3/20 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 张明利 |
| 地址： | 621999*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种真空系统漏点快速非接触检测方法，其包括：在真空系统待检测区域施加低沸点液体；对真空系统待检测区域所处环境中各处温度进行探测；根据所探测到低温位点集聚区域定位真空系统漏点；其中，根据所探测到低温位点集聚区域定位真空系统漏点包括：查找低温区域中温度最低点，通过图像对低温区域进行放大分析，直到判断出低温区域中温度最低点；对应温度最低位点定位漏点，确定最低点后，判断该位点在真空系统待检测区域的位置，来确定待测系统中漏点位置。该方法操作简单，定位速度快，检测效率高，抗干扰能力强，检测成本低，适合快速对大型真空系统进行漏点定位，适合推广使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 真空 系统 快速 接触 检测 方法 | ||
【主权项】：
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