[发明专利]液晶面板缺陷复判方法有效
| 申请号： | 202010187484.0 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN111239143B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 杨洋;殷嘉鸿;赵斌 | 申请（专利权）人： | 合肥市商巨智能装备有限公司;深圳商巨智能设备股份有限公司;深圳市商巨视觉技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G01N21/01;G02F1/13 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230012 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种液晶面板缺陷复判方法，该方法主要包括以下步骤：Z轴直线模组带动复判相机沿着Z方向移动，并采用测距传感器测量复判相机光学镜头与液晶面板上表面的垂直距离，当复判相机沿着Z方向移动到光学镜头与液晶面板上表面的距离等于光学镜头工作距离时，启动复判相机，复判相机根据测距传感器监控的实时距离，以△＝5～75μm为步进单位进行拍照并依次计数为A，以缺陷最清晰的图像的行进行程△*A为判断依据，与各层级进行对比，判断缺陷的所处的层级。本发明能够准确计算出缺陷所在深度位置，有利于判断缺陷从哪些工序产生的，进一步改进工序，提高良品率。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶面板 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
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