[发明专利]一种冷热冲击设备在审
申请号: | 202010157132.0 | 申请日: | 2020-03-09 |
公开(公告)号: | CN111189733A | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 郑巧瑜;王旭飞;庞尔跃;邹军;石明明;王金瑞 | 申请(专利权)人: | 上海应用技术大学;上海映透能源科技有限公司 |
主分类号: | G01N3/60 | 分类号: | G01N3/60;G01N21/64;G01R31/26 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
地址: | 200235 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种冷热冲击设备,包括:底座;控制箱,固定在底座上,控制箱内设置有控制器;激发组件,固定在控制箱的侧面上部,激发组件进一步包括:用于连接测试光电学特性的光纤探头的激发器、激发器固定座,激发器固定安装在激发器固定座上,激发器内设置有芯片,激发器固定座内设置电源模块;冷热冲击箱,包括箱体和箱盖,箱体内设置有半导体制冷芯片、样品槽和金属块,料槽块上表面开设装有待测样品的样品槽,金属块设置在料槽块的下部,半导体制冷芯片一部分镶嵌在料槽块的下部,另一部分镶嵌在金属块的上部,半导体制冷芯片与控制器电连接;冷热冲击设备在测试状态下,样品槽在激发器的下方。该设备将变温和测试集中在同一设备上。 | ||
搜索关键词: | 一种 冷热 冲击 设备 | ||
【主权项】:
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