[发明专利]一种冷热冲击设备

说明书

本发明公开了一种冷热冲击设备，包括：底座；控制箱，固定在底座上，控制箱内设置有控制器；激发组件，固定在控制箱的侧面上部，激发组件进一步包括：用于连接测试光电学特性的光纤探头的激发器、激发器固定座，激发器固定安装在激发器固定座上，激发器内设置有芯片，激发器固定座内设置电源模块；冷热冲击箱，包括箱体和箱盖，箱体内设置有半导体制冷芯片、样品槽和金属块，料槽块上表面开设装有待测样品的样品槽，金属块设置在料槽块的下部，半导体制冷芯片一部分镶嵌在料槽块的下部，另一部分镶嵌在金属块的上部，半导体制冷芯片与控制器电连接；冷热冲击设备在测试状态下，样品槽在激发器的下方。该设备将变温和测试集中在同一设备上。

技术领域

本发明属于LED荧光材料在不同温度的光学特性测试设备领域，尤其涉及一种冷热冲击设备。

背景技术

LED器件的发光性能不仅和其电学性能相关，还受其温度影响，现有 LED等因其散热慢导致温度升高进而导致LED等寿命缩短。因此，研究不同温度下的LED器件的光学特性尤为重要。而目前的冷热冲击设备只能将 LED器件加热到不同温度或降温，而测试光学特性还需要到专门的仪器测试，因此开发一种集温度与测试一体的冷热冲击设备尤为重要。

发明内容

本发明针对上述现有技术中的问题，提供了一种冷热冲击设备，该设备不仅可实现精确制冷制热，而且在同一设备就可以测试LED器件在不同温度范围内的光学特性。

为解决上述问题，本发明的技术方案为：

一种冷热冲击设备，包括：

底座；

控制箱，固定在所述底座上，所述控制箱内设置有控制器；

激发组件，固定在所述控制箱的侧面上部，所述激发组件进一步包括：用于连接测试光电学特性的光纤探头的激发器、激发器固定座，所述激发器固定安装在所述激发器固定座上，所述激发器内设置有芯片，所述激发器固定座内设置电源模块，所述电源模块以使所述芯片激发发光；

冷热冲击箱，包括箱体和箱盖，所述箱体内设置有半导体制冷芯片、料槽块和金属块，所述料槽块上表面开设装有待测样品的样品槽，所述金属块设置在所述料槽块的下部，所述半导体制冷芯片一部分镶嵌在所述料槽块的下部，另一部分镶嵌在所述金属块的上部，所述半导体制冷芯片与所述控制器电连接，所述控制器用于控制所述半导体制冷芯片的温度；所述冷热冲击设备在测试状态下，所述样品槽在所述激发器的下方。

优选地，所述箱体进一步设置循环水管道，所述金属块内部开设U型槽，所述U型槽为循环水进口和循环水出口并与所述循环水管道连接，U型槽是为了形成对流的低温环境，以保证料槽块能够很快从高温降到低温，所述循环水管道连接外部水箱。金属块优选导热性能良好的纯铜块。

优选地，所述样品槽内设置有温度感应器，可实时检测样品槽内的温度，所述温度感应器与所述控制器电连接，温度传感器将样品槽内的温度实时发送给控制器，精确控制样品槽内的温度变化。

优选地，所述控制箱的外表面上设有一触摸显示屏，所述触摸显示屏用于调节所述半导体制冷芯片温度和显示样品槽内的实时温度，在控制箱外设置触摸显示屏，即可实现智能化控制，只需要在触摸显示屏中输入需要控制的温度，便能由控制器控制半导体制冷芯片变温到设定的温度，再有温度感应器感应样品槽内的温度，通过控制器实时传递到触摸显示屏上，使触摸显示屏显示温度。

优选地，所述底座上设置有滑轨，所述冷热冲击箱体的底部设置与所述滑轨滑动连接的滑块。在底座上设置滑轨，在测试的时候可方便地将冷热冲击箱体移动到激发器的下方，不需要测试或换测试样品时，再将冷热冲击箱体移动到底座的另一侧。

优选地，所述电源模块为移动电源，方便匹配不同功率的芯片。

优选地，所述冷热冲击箱内样品槽的温度范围为-30℃-150℃。