[发明专利]一种射频器件测试系统在审
| 申请号： | 202010133907.0 | 申请日： | 2020-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN113358947A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 肖如吾;辛朝焕;卢凯;徐经逸;成慜;贾胜伟;孔令龙 | 申请（专利权）人： | 上海特普瑞通讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R23/16 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200080 上海市虹*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及通信测量领域，尤其涉及一种一站式全自动射频器件测试系统。本发明通过可自动运行的包括信号切换单元的射频器件测试系统，将多个测试项目高度集成，大幅降低测试成本，不必中途搬运和频繁接插线缆，同时大幅节约测试用场地。测试过程全程无人参与，也大幅提高测试一致性，缩短测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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