[发明专利]光路位置校准方法、校准工装及荧光定量检测系统有效
| 申请号： | 202010115546.7 | 申请日： | 2020-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN111289434B | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 李冬;曹进涛;贺贤汉 | 申请（专利权）人： | 杭州博日科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;C12Q1/686 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供的光路位置校准方法、校准工装及荧光定量检测系统，涉及生物检测技术领域，在光路位置校准方法中，根据样品孔的M列N排的排布方式，将检测端的光纤分为M个光纤束，每个光纤束中包含N根光纤；将M个光纤束进行安装，使得每个光纤束的位置与一列样品孔对应；利用光路位置校准工装将N排或者N‑1排的样品孔对应的光纤按照设定顺序点亮，通过检测设备检测出每个光纤束的N根光纤的位置。在多孔检测、用到光纤数量庞大的高通量检测时，能够容易快速的将大量样品孔的位置与检测端的大量光纤的位置一一对应，从而使检测结果准确，不会产生混乱的情况，而且当样品孔数量越多时，上述效果越明显。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 校准 方法 工装 荧光 定量 检测 系统 | ||
【主权项】：
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