[发明专利]一种芯片共享资源串行测试装置及方法有效
| 申请号： | 202010113069.0 | 申请日： | 2020-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN111273157B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 薛孟锡 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 陶金龙;马盼 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片共享资源串行测试方法，包括如下步骤：S01：将芯片A和芯片B通过双掷继电器同时连接至测试平台；S02：测试平台录入每个芯片中各个测试项目的占用时间；S03：测试平台控制双掷继电器连接至芯片A，当芯片A的测试项目X的闲置时间大于芯片B的一个或多个测试项目的测试时间时，进入步骤S04；否则，测试平台对芯片A各个测试项目依次进行测试，测试完成之后，测试平台控制双掷继电器连接至芯片B，测试平台对芯片B进行测试；S04：测试平台控制双掷继电器连接至芯片B，测试平台对芯片B进行一个或多个测试项目的测试；S05：测试平台控制双掷继电器连接至芯片A，返回步骤S03。本发明可以节省芯片测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 共享资源 串行 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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