[发明专利]采样设备和用于控制采样设备的方法在审

专利信息
申请号: 202010107459.7 申请日: 2020-02-21
公开(公告)号: CN111611126A 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 土手晓;田村泰孝 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30;G06F17/15;G06N20/00;G06Q10/04
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 刘雯鑫;杨林森
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及采样设备和用于控制采样设备的方法。采样设备包括:状态保存单元,其保存多个状态变量的值并每隔一定试验次数将其输出;能量变化计算单元,其基于根据更新索引值选择的权重值计算能量变化值;第一偏移控制单元,其基于多个能量变化值确定第一偏移值并每隔一定试验次数将其输出,输出通过将第一偏移值与多个能量变化值相加获得的多个第一评估值;第一比较单元,其基于将多个第一评估值与阈值比较的结果输出多个第一标志值;第一标志计数单元,其每隔一定试验次数输出通过对指示允许状态转换的第一标志值的数目计数获得的第一计数值;以及选择单元,其基于多个第一标志值或多个能量变化值将与状态转换之一对应的索引值输出为更新索引值。
搜索关键词: 采样 设备 用于 控制 方法
【主权项】:
暂无信息
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