[发明专利]RCS测量背景对消的测试方法和室内RCS测试系统在审
| 申请号： | 202010091886.0 | 申请日： | 2020-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN111273247A | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 杨景轩;侯鑫;刘拓 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01S7/41 | 分类号： | G01S7/41;G01S7/02 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 周娇娇 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种RCS测量背景对消的测试方法、RCS测量背景对消装置和室内RCS测试系统，其中方法包括：使用室内RCS测试系统测量目标回波信号，其中室内RCS测试系统包括金属屏蔽壳体，以及置于金属屏蔽壳体内的雷达收发系统、目标和金属支架；测量移除目标和金属支架后的背景回波信号；根据所述目标回波信号和背景回波信号进行矢量相消，得到背景对消后的回波信号，并基于该回波信号得到目标的RCS值。本发明通过移除金属支架后的空暗室背景数据来进行背景对消，在保证不引入支架散射影响的同时，消除天线直漏、墙壁、地面等处的固定杂波对测试的影响，提高了RCS测试中背景对消的效果，提升了测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | rcs 测量 背景 对消 测试 方法 室内 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京环境特性研究所，未经北京环境特性研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010091886.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
