[发明专利]一种微处理器单粒子闩锁效应的测试方法及测试系统有效
| 申请号： | 202010088300.5 | 申请日： | 2020-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN111273163B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 池雅庆;梁斌;陈建军;郭阳;袁珩洲;刘必慰;宋睿强;吴振宇 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 周长清 |
| 地址： | 410073 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 一种微处理器单粒子闩锁效应的测试方法及测试系统，该方法包括：S1：为被测微处理器供电并监控供电电流和运行状态，用高能粒子辐照并统计总注量Q；S2：若Q达预定值转S7，否转S3；S3：若电流超过指定值转S5，否转S4；S4：若发现运行状态异常转S5，否转S2；S5：暂停辐照，不断电重启被测微处理器，若电流不大于指定值且运行状态正常则恢复辐照转S2，否转S6；S6：K值增1，断电重启被测微处理器，若电流未超过指定值且运行状态正常则恢复辐照转S2，否判断发生SEB转S7；S7：停止辐照，计算被测微处理器单粒子闩锁截面C＝K/Q。该系统依据上述方法来实施。本发明能够准确判断微处理器单粒子闩锁效应的发生，提高微处理器单粒子闩锁效应评估的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微处理器 粒子 效应 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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