[发明专利]光学测定装置有效
| 申请号： | 202010087557.9 | 申请日： | 2016-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN111257229B | 公开（公告）日： | 2023-05-12 |
| 发明（设计）人： | 大泽祥宏;水口勉;野口宗裕 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学测定装置，具备：光纤，其用于将来自光源的光引导至壳体；检测元件，其配置在所述壳体的内部；衍射光栅，其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件；冷却机构，其至少局部与所述检测元件接合，用于冷却所述检测元件；温度调节机构，其用于使所述壳体的内部空间的温度维持为固定；以及隔热机构，其配置在所述壳体的周围，用于减少热从所述壳体的周围向所述壳体内的侵入，其中，所述冷却机构包括：基部，其形成所述壳体的一部分，并且用于支承所述检测元件；第一电子冷却元件，其配置在所述基部的内部；以及冷却翅片，其经由接合层接合于所述基部的外表面。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测定 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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