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[发明专利]光学测定装置-CN202010087557.9有效
发明人： 大泽祥宏;水口勉;野口宗裕 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2016-07-07 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测定装置，具备：光纤，其用于将来自光源的光引导至壳体；检测元件，其配置在所述壳体的内部；衍射光栅，其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件；冷却机构，其至少局部与所述检测元件接合，用于冷却所述检测元件；温度调节机构，其用于使所述壳体的内部空间的温度维持为固定；以及隔热机构，其配置在所述壳体的周围，用于减少热从所述壳体的周围向所述壳体内的侵入，其中，所述冷却机构包括：基部，其形成所述壳体的一部分，并且用于支承所述检测元件；第一电子冷却元件，其配置在所述基部的内部；以及冷却翅片，其经由接合层接合于所述基部的外表面。
光学测定装置

[发明专利]光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法-CN201610532006.2有效
发明人： 大泽祥宏;水口勉;野口宗裕 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2016-07-07 - 公布日： 2020-09-01 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。光学特性测定系统包括第一测定装置。第一测定装置包括：第一检测元件，其配置在壳体内；第一冷却部，其至少局部与第一检测元件接合，用于冷却检测元件；以及抑制机构，其用于抑制在壳体内的检测元件的周围产生的温度变化。
光学特性测定系统以及校正方法

[发明专利]包括半球型的积分球的光学测量装置-CN201110043621.4有效
发明人： 大泽祥宏;大久保和明 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2011-02-23 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测量装置(100、200、300)，其包括：内壁上具有漫反射层(1a)的半球部(1)；通过半球部的实际的曲率中心，且配置为封闭半球部的开口部的、在半球部的内表面侧具有反射层的平面部(10)。平面部包括：用于将要在形成于半球部与平面部之间的积分空间内均匀化的光导入该积分空间内的窗(2、4、17)和用于抽出在积分空间内被均匀化了的光的窗(6、18)中的至少一种窗；自平面部与半球部的内壁相接触的最外周起至少占有规定宽度的区域的、由主要产生正反射的第1材质构成的外周部(12)；由与第1材质相比至少在紫外波长区域具有更高的反射率且主要产生漫反射的第2材质构成的、占有外周部的内侧的区域的内周部(14)。
包括半球积分光学测量装置

[发明专利]量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器-CN201110069976.0有效
发明人： 大泽祥宏;大久保和明 -专利权人：大*电子株式会社
申请日： 2011-03-18 - 公布日： 2011-09-21 - 主分类号： G01J3/443 文献下载
摘要：本发明提供一种量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器。该量子效率测量方法包括以下步骤：步骤(S10)，将试样配置在具有积分空间的积分器内的规定位置；步骤(S12)，向试样照射激发光，并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第1光谱进行测量；步骤(S20)，将激发光入射部分构成为使透过试样后的激发光不向积分空间内反射；步骤(22)，向试样照射激发光，并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第2光谱进行测量；步骤(S40、S42、S46)，基于第1光谱中的与激发光的波长范围相对应的成分和第2光谱中的与试样受到激发光的照射而发出的光的波长范围相对应的成分算出试样的量子效率。
量子效率测量方法测量装置积分器