[发明专利]放大接口以及用于校正放大接口的对应测量系统和方法在审
| 申请号： | 202010081701.8 | 申请日： | 2020-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN111555721A | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | C·M·伊波利托;M·韦亚纳;A·雷克希亚 | 申请（专利权）人： | 意法半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | H03F1/30 | 分类号： | H03F1/30 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 意大利阿格*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及放大接口以及用于校正放大接口的对应测量系统和方法。一种放大接口包括：连接到第一节点的第一FET的漏极、连接到第二节点的第二FET的漏极、以及连接到第三节点的第一FET和第二FET的源极。第一偏置电流发生器和第二偏置电流发生器连接到第一节点和第二节点。第三FET连接在第三节点和参考电压之间。调节电路驱动第三FET的栅极，以将第一节点处的电压和第二节点处的电压的共模调节到期望值。电流发生器向第一节点和/或第二节点施加校正电流。差分电流积分器具有连接到第二节点和第一节点的第一输入和第二输入。积分器供应电压，该电压表示在第二输入和第一输入处所接收的电流之差的积分。 | ||
| 搜索关键词： | 放大 接口 以及 用于 校正 对应 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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