[发明专利]在成像质谱法中跨越长测量时间段维持光谱质量有效
| 申请号： | 202010081545.5 | 申请日： | 2020-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN111554561B | 公开（公告）日： | 2023-01-03 |
| 发明（设计）人： | 延斯·赫恩多尔夫;安德烈亚斯·哈泽 | 申请（专利权）人： | 布鲁克·道尔顿有限及两合公司 |
| 主分类号： | H01J49/40 | 分类号： | H01J49/40;G01N27/626 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 顾红霞;张芸 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及在薄样品切片上的成像质谱法，特别是通过基质辅助激光解吸(MALDI)法利用电离来进行，其中高横向图像分辨率意味着必须获取数百万个(甚至上亿个)质谱图并且图像获取要跨越多个小时进行。在这种情况下质谱图的质量从一个小时到下一小时明显劣化。本发明基于如下发现：跨越多个小时的连续测量系列的光谱质量下降仅部分地由检测器增益的减小引起，并且另一显著原因是每个离子产生脉冲的可用离子数量的下降，这归因于几种难以调节的现象。现在本发明提出以这样一种方式代替仅调节检测器增益：不仅补偿了检测器增益的减小，而且还补偿了每个离子产生脉冲(例如，激光发射)的可用离子数量的减少。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 质谱法中 跨越 测量 时间段 维持 光谱 质量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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