[发明专利]对X射线成像中的格栅伪影的基于学习的校正有效
| 申请号： | 202010081107.9 | 申请日： | 2020-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN111544018B | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | P.伯恩哈特;B.斯托瓦瑟 | 申请（专利权）人： | 西门子医疗有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 侯宇 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于训练X射线系统的功能的方法，所述X射线系统具有具备检测器(2)的定位设备(3，5)，特别是C形臂(3)，并且在所述检测器(2)前面的光路中具有散射辐射格栅(4)。将所述检测器(2)定位(POS)在多个不同的位置，其中，所述定位设备(3，5)发生弯曲和/或扭转。然后，在每个位置分别记录(PIC1)至少一个X射线记录，并且针对所述功能，根据所有X射线记录，自动学习(ML)由于所述散射辐射格栅(4)而产生的伪影。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 中的 格栅 基于 学习 校正 | ||
【主权项】：
暂无信息
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