[发明专利]自动分析装置在审
| 申请号： | 202010073411.9 | 申请日： | 2020-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN111474372A | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 朝仓诚;山下峰;中井亲;布川和城 | 申请（专利权）人： | 日本电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种在分注探头的浸渍是过量浸渍的情况下能够进行与运用相对应的动作自动分析装置。测量部(1a)具有：容纳单元，其具有容纳有液体的多个容器；分注单元，其具有用于分注液体的分注探头；以及计量部，其对通过分注单元分注的液体进行计量。过量浸渍判断部(44c)判断分注探头的浸渍是否为超过预定的范围的过量浸渍。输入部(42)能够从多个模式中选择并设定在过量浸渍判断部判断为过量浸渍之后的测量部(1a)的动作。测量控制部(44b)根据由输入部(42)设定的模式来控制测量部(1a)。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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