[发明专利]接近检测设备和方法在审
| 申请号： | 202010048926.3 | 申请日： | 2020-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN111521991A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | P·梅洛特 | 申请（专利权）人： | 意法半导体（格勒诺布尔2）公司 |
| 主分类号： | G01S7/48 | 分类号： | G01S7/48;G01S17/894 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 法国格*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及接近检测设备和方法。本公开涉及接近检测设备。接近检测设备包括一个或多个光电检测器以及读出电路，读出电路被配置为贯穿检测时段以规则的间隔对来自一个或多个光电检测器的一个或多个输出信号进行采样。接近检测设备包括脉冲传输电路，脉冲传输电路被配置为将具有第一脉冲持续时间的第一光学脉冲和具有第二脉冲持续时间的第二光学脉冲传输到场景中，第二脉冲持续时间比第一脉冲持续时间长至少百分之五十。 | ||
| 搜索关键词： | 接近 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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