[发明专利]一种金箔产品厚度的测量方法在审
| 申请号： | 202010041218.7 | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN111089556A | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 王鑫磊;黄成;张帆;王亮 | 申请（专利权）人： | 南京市产品质量监督检验院 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 王美章 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种金箔产品厚度的测量方法，采用电感耦合等离子发射光谱仪依据QB/T 1734和GB/T 21198.6的测量方法对金箔产品进行成分测定，根据各组成元素的百分含量和密度，计算出金箔的综合密度。同时使用游标卡尺准确测量金箔的长度和宽度，使用精密天平称量金箔质量，最后根据金箔的质量、长度和宽度以及金箔综合密度，从而计算出金箔产品的准确厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 金箔 产品 厚度 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京市产品质量监督检验院，未经南京市产品质量监督检验院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010041218.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
