[发明专利]一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法在审
| 申请号： | 202010040606.3 | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN111220867A | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 文林;蔡毓龙;李豫东;周东;冯婕;郭旗 | 申请（专利权）人： | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01C25/00;H04N17/00 |
| 代理公司： | 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙) 65106 | 代理人： | 张莉 |
| 地址： | 830011 新疆维吾尔*** | 国省代码： | 新疆;65 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种用于CMOS图像传感器单粒子翻转效应的测试方法。该方法所涉及的测试系统是由PC机和CMOS图像传感器测试板组成，其中CMOS图像传感器测试板由图像和数据接口、现场可编程门阵列、CMOS图像传感器和外围电路组成，在PC机中设置有图像成像软件和寄存器读写软件，PC机中图像采集卡通过数据线与CMOS图像传感器测试板中的图像和数据接口相连，现场可编程门阵列将图像数据映射成标准图像格式传递给PC机，电源通过外围电路为CMOS图像传感器和现场可编程门阵列供电，寄存器读写软件可读写CMOS图像传感器内部寄存器值，同时将读出值和初值进行比较，判定该寄存器是否发生翻转，并自动统计寄存器发生翻转次数。本发明所述方法简单快速，计算结果准确，实时性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 cmos 图像传感器 粒子 翻转 效应 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院新疆理化技术研究所，未经中国科学院新疆理化技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010040606.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种可移动多功能铺床设备
- 下一篇：一种茵陈复配型防腐剂及其制备工艺与应用
