[发明专利]测试电路、测试系统及其测试方法有效
| 申请号： | 202010012688.0 | 申请日： | 2020-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN113176482B | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 蒋昊 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人： | 高静 |
| 地址： | 300380 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试电路、测试系统及其测试方法，所述测试电路中的环形振荡器在使能信号发出的第一电平信号下开启振荡，产生交流信号，所述反相器模块在所述使能信号下导通，交流信号通过反相器加载在被测器件上；在使能信号发出的第二电平信号下，所述环形振荡器停止振荡，使所述反相器模块关断，此时即可对被测器件进行相关直流测试，从而简化了测试设备和测试步骤，节省了测试时间，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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