[发明专利]校准装置、校准方法、程序和校准系统及校准目标在审
申请号: | 201980081729.7 | 申请日: | 2019-10-10 |
公开(公告)号: | CN113167859A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 山本英明 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40;G01S13/86;G01S13/87;G01S13/931 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 郭思宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 校准单元60获取分别由传感器单元40中的多个传感器中的一个传感器生成并指示校准目标的检测结果的检测信号。状态检测单元61使用检测信号来检测校准目标的状态。时间差校正量设定单元65通过使用由状态检测单元61获得的校准目标的状态检测结果来计算分别由传感器单元40的一个传感器生成的检测信号之间的时间差,并基于计算结果设定时间差校正量。基于时间差校正量设定单元65设定的时间差校正量,可以校正由传感器单元40的多个传感器获取的信息之间的时间对准偏差。 | ||
搜索关键词: | 校准 装置 方法 程序 系统 目标 | ||
【主权项】:
暂无信息
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