[发明专利]用于改善成像中的散射估计和校正的方法和设备在审
申请号: | 201980079114.0 | 申请日: | 2019-11-25 |
公开(公告)号: | CN113164135A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 丹尼尔·加农;白传泳;喻智聪;A·杰恩;C·R·小毛雷尔 | 申请(专利权)人: | 爱可瑞公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61N5/10;G06T5/00;G21K1/02;A61B6/02;A61B6/03;A61B6/06;G21K1/04 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 石海霞;金鹏 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种x射线成像设备和关联的方法,用于接收从宽轴向区域的宽孔径扫描和该宽轴向区域内的窄轴向区域的窄孔径扫描测得的投射数据,以及使用优化的散射估计技术确定该宽轴向区域中的估计的散射。优化的散射估计技术是基于窄轴向区域中测得的散射与窄轴向区域中估计的散射之间的差异。可以对基于核的散射估计/校正技术进行拟合,以最小化窄轴向区域中的散射差异,并且此后将拟合后的(优化的)基于核的散射估计/校正应用于宽轴向区域。优化可以在投射数据域或重建域中进行。还使用了迭代过程。 | ||
搜索关键词: | 用于 改善 成像 中的 散射 估计 校正 方法 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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