[发明专利]具有不同检测时间的电荷存储仓的集成光电检测器在审

专利信息
申请号: 201980042085.0 申请日: 2019-06-20
公开(公告)号: CN112534803A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 汤姆·瑟斯顿;班杰明·西普里亚尼;约瑟夫·D·克拉克;托德·雷里克;基思·G·菲费 申请(专利权)人: 宽腾矽公司
主分类号: H04N5/3745 分类号: H04N5/3745;G01N21/64
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 谭营营;胡彬
地址: 美国康*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种集成电路:包含被配置为接收入射光子的光电检测区。该光电检测区被配置为响应于所述入射光子而产生多个电荷载体。该集成电路包含电荷载体存储区。该集成电路还包含电荷载体分离结构,该电荷载子分离结构被配置为基于所述多个电荷载体的电荷载体产生的时间选择性地将所述电荷载体直接引导至所述至少一个电荷载体存储区中。
搜索关键词: 具有 不同 检测 时间 电荷 存储 集成 光电 检测器
【主权项】:
暂无信息
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