[发明专利]用于测量应变的装置以及用于制造和使用该装置的方法在审
| 申请号： | 201980024020.3 | 申请日： | 2019-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN112166310A | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | S·T·罗辛斯基;C·A·苏普罗克;J·J·克里斯蒂安 | 申请（专利权）人： | 电力研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01L1/22 | 分类号： | G01L1/22;G01L7/02;G01G3/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李建新;王玮 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种应变测量器以及用于制造和使用该应变测量器以测量感兴趣的表面的应变的方法。具体地，本发明涉及一种半导体应变测量器，所述半导体应变测量器被金属主体使用在所述测量器和所述主体之间的陶瓷界面保持，所述半导体应变测量器能够被附接到感兴趣的表面。本发明还涉及用于制造所述陶瓷界面并且将所述半导体应变测量器附接到感兴趣的表面的方法。本发明，包括其各种实施方式，还涉及使用所述半导体应变测量器以在高于1000°F的温度测量应变。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 应变 装置 以及 制造 使用 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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