[发明专利]利用极紫外辐射源的表面层破坏和电离在审
| 申请号： | 201980009929.1 | 申请日： | 2019-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN111630624A | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 乌多·H·维尔凯克;弗拉迪米尔·罗曼诺夫;艾利森·詹宁斯;汉·T·莱;阿兰·霍普金森 | 申请（专利权）人： | 拉皮斯坎系统股份有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/04 | 分类号： | H01J49/04;H01J49/10;H01J49/14;H01J27/26;H01J49/16;H01J49/26 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 刘丹 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于痕量检测系统的表面电离器包括极紫外光源和离子传输线。极紫外光的激活会破坏样本表面和残留物，并电离产生的蒸汽。所述电离蒸汽收集在离子传输线中，并传送到分析装置中，用于检测蒸汽中的成分。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 紫外 辐射源 表面 破坏 电离 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于拉皮斯坎系统股份有限公司，未经拉皮斯坎系统股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980009929.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：夹紧装置及相关的激光焊接设备
- 下一篇：制备异氰酸酯的方法
